Científico chino confesó haber robado tecnología valorizada US$ mil millones en EE.UU
- María Elena Inga Flores
- 13 nov 2019
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Hongjin Tan era residente legal permanente en Estados Unidos y trabajaba una compañía de petroleo.
Un científico chino se declaró culpable el martes de robar tecnología de baterías de última generación de una compañía estadounidense de petróleo donde trabajaba, dijo el Departamento de Justicia.
Hongjin Tan, un ciudadano chino de 35 años que era un residente legal permanente en Estados Unidos, fue arrestado en diciembre de 2018 y acusado de robar secretos comerciales.
El Departamento de Justicia dijo que Tan se declaró culpable en la Corte de Distrito de Estados Unidos por el Distrito Norte de Oklahoma por el robo de un secreto comercial, la transmisión no autorizada de un secreto comercial y la posesión no autorizada de un secreto comercial.
El valor de mercado de la tecnología de batería que Tan fue acusado de robar es de más de 1,000 millones de dólares.
"La declaración de culpabilidad de Tan entrega un panorama más amplio del robo de propiedad intelectual estadounidense por parte de China", dijo en un comunicado el fiscal general adjunto de seguridad nacional, John Demers.
El fiscal estadounidense Trent Shores dijo que los espías "industriales" como Hongjin Tan participan en espionaje para robar secretos comerciales estadounidenses y propiedad intelectual.
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